應材發表人工智慧半導體缺陷檢測，降低取得關鍵缺陷成本 3 倍
作者 | 發布日期 2021 年 03 月 17 日 17:10 | 分類 公司治理 , 國際貿易 , 晶圓 line share Linkedin share follow us in feedly line share
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應材發表人工智慧半導體缺陷檢測，降低取得關鍵缺陷成本 3 倍

半導體設備廠商美商應材 (Applied Materials) 於 17 日宣布，推出製程控制方面的重大創新，就是在設備中運用大數據與人工智慧技術，協助半導體製造商加速研發時程、更快創造營收，同時獲取更多利潤。

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