光學大廠蔡司 (ZEISS) 看準台灣半導體與科技產業的發展，加速串聯台灣在地資源，深化台灣生態系布局，繼 2024 年新竹成立創新，繼續 2024 年開始的投資台灣百億元十年計畫，台北國際電腦展（COMPUTEX）更展示 AI 伺服器解決方案 ZEISS METROTOM CT 斷層掃瞄系統，以非破壞性掃描無損檢測，協助供應鏈提升 AI 伺服器檢測效率與品質，加速 AI 產業發展。另外，當天還預計宣布新 AI 解決方案投資案。
蔡司台灣總經理章平達表示，蔡司集團積極拓展光學應用領域，涵蓋視力保健與光學消費品、醫療技術、顯微鏡、工業量測，以及半導體製造設備。隨著台灣在全球AI供應鏈中扮演重要角色，蔡司集團積極布局台灣，使其成為第五個擁有完整五大事業群的市場，去年更偕同經濟部簽署投資意向書，宣布十年投資台灣超過 100 億元，整合創新能量、串聯學研單位，推動台灣先進材料研發，並引進高效能先進 AI 伺服器解決方案，加速台灣 A I產業發展。
而隨著生成式 AI 的發展，市場大幅提升對 AI 伺服器的需求，並推動製程對精密度與穩定性的要求。蔡司針對 AI 伺服器推出 ZEISS METROTOM CT 斷層掃瞄系統，該無損檢測解決方案採用非破壞性的電腦斷層掃描技術，利用高能量 X 光對檢測物體進行穿透拍攝，並將穿透拍攝時所產生的 3D 資料，用電腦重組重建。此方案具高解析度成像與先進光學技術，可掃描工件的不同壁厚或缺陷，如裂縫、氣孔、孔隙或其他瑕疵，提供更明確的幾何形狀與公差等資訊，適用元件到 AI 伺服器機櫃全方位檢測，協助供應鏈業者快速偵測並分析隱藏缺陷，提升檢測效率與產品品質。
蔡司台灣工業量測解決方案總監嚴子登表示，ZEISS METROTOM CT 斷層掃瞄系統應用領域橫跨 PCB / PCBA、連接器、散熱管理以及伺服器系統組裝 Level 10、11 階段等環節，能滿足伺服器面對革命性升級時所碰到的挑戰困境。市場上的 AI 伺服器供不應求，供應鏈的任何中斷都可能對產業造成重大影響，此解決方案能提供快速檢測與分析，實現產線狀況排除，以加速全球 AI 產業發展。此外，蔡司今年更將首度於台北國際電腦展進行實機展示。
另外，隨著半導體元件尺寸推進至埃級，加上異質整合與立體化元件結構的複雜性日益增加，高精度的檢測設備成為提升良率的關鍵。蔡司與台灣半導體研究中心（TSRI）合作，提供結合飛秒鐳射的高解析雙束型聚焦離子束顯微鏡系統（ZEISS Crossbeam FIB-SEM with fs laser System），共同開發前瞻原子針尖斷層影像檢測技術之試片製備技術，以滿足尺度半導體檢測技術的研究需求。蔡司台灣顯微鏡解決方案總監蔡慧分享，該系統具備高解析電子顯微鏡筒及高精度聚焦離子束鏡筒，能為半導體器件表面及內部缺陷進行檢測；在大面積切割方面，相較於傳統 FIB 技術，透過飛秒鐳射速度提升高達 6,000 倍，顯著降低檢測成本與時間，有效提升尺度元件製程的良率。
蔡慧還強調，位在新竹的創新中心目前會以協助客戶的角度開始，蔡司本身會是服務第一級客戶為主，而代理商或合作夥伴則會服務第二級以後的客戶，兩者合作一起滿足市場需求。另外，創新中心還開始建立研發能量，進一步協助第一級客戶客製化要求。至於，隨著客戶的全球布局，蔡司也預計將會在美國亞利桑那州建立服務據點。而其他的日本熊本與德國德勒斯登方面，則會由東京與德國總公司來服務，暫時不會有設立據點的打算。
(首圖來源：蔡司)
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